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    OLED光電性能測量系統

    描述:OLED光電性能測量系統,我公司推出OLED器件、有機太陽能電池OPV、鈣鈦礦太陽能電池、鈣鈦礦LED及其他有機半導體器件和無機半導體光電性能測量系統(載流子遷移率測量系統)、電學性能評估系統、發射角度光譜分析系統以及相關器件的軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有效的測試工具。

    更新時間:2024-07-04
    產品型號:
    廠商性質:代理商
    詳情介紹
    品牌其他品牌價格區間面議
    產地類別進口應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子/電池

    OLED光電性能測量系統

    -整合了DC,AC and Transient mode

    用于太陽能電池/OLED器件載流子特性測量與分析,通過對器件的變光強J-V曲線、瞬態光電流譜TPC,瞬態光電壓譜TPV、線性增壓載流子抽取Photo-CELIV、強度調制光電流譜IMPS、強度調制光電壓譜IMVS、阻抗譜IS、電容電壓譜CV、深能級瞬態譜DLTS等進行測量分析,表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動力學過程、摻雜和陷阱分布等性能參數,從而對太陽能電池/OLED器件和其他有機半導體中的載流子遷移率進行有效的分析和測量。


    主要應用:
        * 無機半導體光電器件,有機半導體光電器件;
        * 有機太陽能電池OPV;
        * 鈣鈦礦太陽能電池Perovskite Solar Cell,鈣鈦礦LED;
        * 無機太陽能電池(例如:單晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太陽能電池);
        * 染料敏化太陽能電池DSSC;


    OLED光電性能測量系統

    主要測量功能:

        * 點亮電壓(電流電壓照度特性 I-V-L)
        * 發光壽命,載流子遷移率(瞬態電致發光法 TEL)

        * OLED/鈣鈦礦LED發光特性測量;
        * 載流子密度,載流子動力學過程(瞬態光電流法 TPC)
        * 載流子壽命,載流子符合動力學過程(瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV)
        * 載流子遷移率(暗注入瞬態法 DIT,單載流子器件&OLED)
        * 串聯電阻,幾何電容,RC時間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)
        * 參雜密度,電容率,串聯電阻,載流子遷移率(暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV)
        * 載流子遷移率,載流子密度(光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV)
        * 載流子復合過程,朗之萬函數復合前因子(時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV)
        * 不同工作點的載流子強度,載流子遷移率(注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV)
        * 幾何電容,電容率(MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV)
        * 陷阱強弱度,等效電路(阻抗譜測試 IS)
        * 遷移率,陷阱強弱度,電容,串聯電阻(電容VS頻率 C-f)
        * 內建電壓,參雜濃度,注入勢壘,幾何電容(電容VS電壓 C-V)


    測量技術:

    1)IV/IVL特性:IV和IVL曲線是針對OLED和OPV標準的量測手法,通過曲線可以得到樣品的電流電壓特性關系、電流電壓與光強的特性關系;
     *對于有機半導體材料可通過空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等;|
    2)瞬態光電流響應法(Transient Photocurrent ):
    研究載流子動力學過程和載流子密度等
    3)瞬態光電壓(Transient Photovoltage)
    研究載流子壽命和復合過程;
    4) 雙脈沖瞬態光電流(Double Transient Photocurrent):分析電荷載流子俘獲動態過程;
    5) 暗注入瞬態法(Dark Injection):對于單載流子器件和OLED,研究其載流子遷移率;
    6) 電壓脈沖法(Voltage Pulse):串聯電阻、幾何電容和RC效應分析;
    7) 暗態線性增壓載流子瞬態法(Dark-CELIV):
    參雜濃度、相對介電常數、串聯電阻、電荷載流子遷移率測量
    8) 光照線性增壓載流子瞬態法(Photo-CELIV):提取有機太陽能電池片內載流子遷移率mobility ,以及載流子濃度分析等;

    9) 時間延遲線性增壓載流子瞬態法(Delaytime-CELIV):復合動態過程分析和郎之萬復合因子分析等;
    10)注入線性增壓載流子瞬態法(Injection-CELIV):電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析;
    11)MIS-CELIV:幾何電容和相對介電常數分析;
    12)阻抗譜測量(Impedance Spectroscopy):
    器件等效電路分析等
    13)電容頻率測量法(C-f): 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯電阻測量;
    14)電容電壓測量法(C-V):內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量;
    15)瞬態電致發光測試(
    Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的載流子,磷光壽命測量;


    太陽能電池和OLED測試示意圖

    OLED光電性能測量系統


    測量功能

    OLED光電性能測量系統



    OLED光電性能測量系統


    技術規格

       • 采樣率:60MS/s

       • 時間分辨率:16ns

       • 頻率范圍:10mHz to 10MHz

       • 電流分辨率:≤10pA

       • LED上升時間:100ns

       • 電流范圍:100mA

       • 電壓范圍:±12V


    可選功能

       • Solar Cell Version or/and OLED Version

       • Multi-LED模塊:360nm~1100nm for EQE

       • 變溫測試臺:-120 °C to 150 °C(多種可選)

       • 光譜儀:OLED器件發光光譜測量

       • SUM擴展模塊: 電壓±60V,電流分辨1pA


    應用領域

       • 鈣鈦礦太陽能電池PSCs

       • 有機、量子點太陽能電池

       • 染料敏化電池DSSC

       • 疊層太陽能電池

       • CIGS, CdTe, CZTS太陽能電池

       • 鈣鈦礦和量子點LED器件

       • 有機發光器件OLED

       • MIS器件和LECs


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