d33 壓電系數(shù)測(cè)試儀，其分辨率可達(dá)0.01pC/N，采用多種測(cè)量模式，在測(cè)量壓電系數(shù)的同時(shí)，可記錄d31, d15, 電容、電量、tan δ等參數(shù)，并也可計(jì)算g33、介電常數(shù)和εT33等。可用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試；

電容充放電測(cè)試儀，詳細(xì)說(shuō)明：目前常規(guī)電滯回線測(cè)試設(shè)備在高壓下測(cè)量電容能量密度存在的問(wèn)題：待測(cè)樣品上的電荷被放回到高壓電源，而不是一個(gè)有效有意義的負(fù)載。

高壓漏電流及熱釋電測(cè)量系統(tǒng)，詳細(xì)說(shuō)明：美國(guó)Polyk Technologies公司研發(fā)了高壓漏電流和熱釋電測(cè)量系統(tǒng)，對(duì)于研發(fā)高能量密度和功率介電材料很有幫助！

電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng)基于改進(jìn)優(yōu)化的動(dòng)態(tài)Sawyer-Tower電路開(kāi)發(fā)的該系統(tǒng)，用于測(cè)量介電和鐵電材料的電荷密度與電場(chǎng)及頻率的關(guān)系；

低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng)當(dāng)通過(guò)LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測(cè)量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對(duì)于加載的電場(chǎng)具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。