瞬態(tài)光電壓測試是多功能載流子遷移率綜合分析系統(tǒng)的一個(gè)具有代表性的測試，專注于載流子的深入研究與分析，可對OPV太陽能電池、PVK鈣鈦礦太陽能電池、OLED器件和其他有機(jī)半導(dǎo)體中的載流子遷移率進(jìn)行全面有效分析和測量。
瞬態(tài)光電壓測試主要測量功能：
1、大功率點(diǎn)MPP、FF、Voc、Isc、VS 光強(qiáng)，遷移率（I-V測試 & I-V-L測試，空間電荷限制電流SCLC法）
2、載流子密度，載流子動力學(xué)過程（瞬態(tài)光電流法 TPC）
3、載流子壽命，載流子符合動力學(xué)過程（瞬態(tài)光電壓/瞬態(tài)開路電壓法 TPV）
4、載流子遷移率（暗注入瞬態(tài)法 DIT，單載流子器件&OLED）
5、串聯(lián)電阻，幾何電容，RC時(shí)間（電壓脈沖法 Pulse Voltage）
6、參雜密度，電容率，串聯(lián)電阻，載流子遷移率（暗態(tài)線性增壓載流子瞬態(tài)法 Dark-CELIV）
7、載流子遷移率，載流子密度（光照線性增壓載流子瞬態(tài)法 Photo-CELIV）
8、載流子復(fù)合過程，朗之萬函數(shù)復(fù)合前因子（時(shí)間延遲線性增加載流子瞬態(tài)法 Delaytime-CELIV）
9、不同工作點(diǎn)的載流子強(qiáng)度，載流子遷移率（注入線性增壓載流子瞬態(tài)法 Injection-CELIV）
10、幾何電容，電容率（MIS線性增加載流子瞬態(tài)法 MIS-CELIV）
11、陷阱強(qiáng)弱度，等效電路（阻抗譜測試 IS）
12、遷移率，陷阱強(qiáng)弱度，電容，串聯(lián)電阻（電容VS頻率 C-f）
13、內(nèi)建電壓，參雜濃度，注入勢壘，幾何電容（電容VS電壓 C-V）
14、點(diǎn)亮電壓（電流電壓照度特性 I-V-L）
15、發(fā)光壽命，載流子遷移率（瞬態(tài)電致發(fā)光法 TEL）
16、載流子遷移率（TEL瞬態(tài)電致發(fā)光，Photo-CELIV線性增壓抽取載流子）
17、OLED/鈣鈦礦LED發(fā)光特性測量（發(fā)光器件測量）
