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    判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標

     更新時間:2020-12-28 點擊量:2399
      日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器具有高輻照度、大尺寸光斑、均勻性和穩定性良好、長時間持續工作等優勢,各項技術指標均處于國內水平。太陽模擬器的投入使用,有效提高了真空環境下目標的測量范圍和測量精度,對我國模擬測量工作具有重要意義。
      太陽光模擬器由光源、儲能供電電路、觸發電路、電子負載、采集電路以及計算機等模塊組成,在整個太陽模擬器中,其中的關鍵部件可以分成六個模塊,它們是:光源,儲能供電模塊,濾光系統,勻光系統,電子負載,軟件系統。
      判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標。
      1. 光譜匹配度
      光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內與真實太陽光的匹配程度,用百分比來表示。根據數據的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進行劃分。
      2. 輻照空間均勻性
      在一定測試區域的輻照度應達到一定的均勻度要求。計算方法為:不均勻度=(大輻照度-小輻照度)/(大輻照度+小輻照度)×100%。
      光照均勻性是難達到和保持的一項指標,工作面積上的強光點會導致被測電池效率產生嚴重誤差,并導致電池分級錯誤。均勻度*的模擬器就能將這種強光點對產品的影響降到低,其空間均勻性嚴格控制于≤2%。
      3. 輻照時間穩定性
      輻照穩定性是AA*標準的第三項性能參數指標,它要求日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器的輸出光束長時間保持穩定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對于輻照不穩定性,還細分為長期不穩定性(LTI)和短期不穩定性(STI),分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。
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